H317 : Peut provoquer une allergie cutanée P280 : Porter des gants de protection/des vêtements de protection/un équipement de protection des yeux/du visage. P302+P352 : En cas de contact avec la peau : laver abondamment à l’eau et au savon. P333+P313 : En cas d’irritation ou d'éruption cutanée : consulter un médecin.
La principale difficulté dans la production de composants à base de nitrure de gallium réside dans la croissance de monocristaux de grande taille de haute qualité. Pour cette raison, il est encore nécessaire de recourir à des substrats tels que le saphir et le carbure de silicium. La qualité des couches de GaN hétéroépitaxiées sur ces substrats a été grandement améliorée à la suite des travaux d'Isamu Akasaki, Hiroshi Amano et Shuji Nakamura, lauréats du prix Nobel de physique 2014 précisément pour avoir permis de réaliser des LED bleues de qualité au début des années 1990[26]. L'autre difficulté est le dopagep du matériau semiconducteur, indispensable à la réalisation de presque tous les composants optoélectroniques, qui a été réalisé pour la première fois par l'équipe d'Akasaki en 1988 puis a été perfectionnée en 1992 par celle de Nakamura[27].
Synthèse
À l'échelle du laboratoire
Il est possible de faire croître des cristaux de nitrure de gallium à partir d'une masse fondue de Na/Ga sous 1 000 atm de pression de N2 à 750 °C. Dans la mesure où le galliummétallique ne réagit pas avec l'azote en dessous de 1 000 °C, on utilise généralement de l'ammoniac NH3 :
Il est également possible de le produire en injectant de l'ammoniac dans du gallium fondu entre 900 et 980 °C sous une pression de 1 atm[30] ou par ammonolyse d'hexafluorogallate d'ammonium (NH4)3GaF6 à 900 °C[31] :
La production industrielle de substrats en nitrure de gallium monocristallin de haute qualité est réalisée par épitaxie en phase vapeur aux hydrures(en) (HVPE)[32],[33],[34]. Par exemple, on fait réagir du chlorure d'hydrogène HCl gazeux avec le gallium liquide à une température d'environ 880 °C pour former du monochlorure de gallium GaCl. Ce dernier est mis en contact avec un germe cristallin de GaN dans une zone de réaction à une température de 1 000 à 1 100 °C pour réagir avec le NH3 entrant en formant du GaN cristallin, selon un procédé connu depuis les années 1970[35]. On parvient ainsi en 2020 à produire industriellement par HVPE des wafers de GaN de 5 et 10 cm de diamètre[36].
Les couches actives en nitrure de gallium sont généralement déposées sur un substrat en saphir (corindonAl2O3rhomboédrique), qui présente le double avantage d'être thermiquement stable avec un faible coût de production. Il est en revanche en fort désaccord de maille avec GaN (ce qui génère de nombreuses dislocations), présente un coefficient de dilatation sensiblement plus élevé que celui du GaN (ce qui introduit des contraintes en compression au refroidissement) et est électriquement isolant, ce qui implique de devoir réaliser tous les contacts électriques à l'avant du composant. Un moyen de réduire ces inconvénients est de réaliser la croissance du GaN selon un plan incliné de 30° par rapport à celui du saphir, ce qui réduit le désaccord de maille à 13 % au lieu de 30 %, et d'intercaler une couche en nitrure d'aluminium alternant des couches AlN, AlGaN ou GaN.
L'alternative principale au saphir est le carbure de silicium (SiC), qui présente un bien meilleur accord de maille et une conductivité thermique très élevée. Il peut de surcroît être dopé pour en faire un conducteur électrique et réaliser des contacts à l'arrière du composant. Le carbure de silicium est en revanche sensiblement plus cher que le saphir, ce qui limite son utilisation comme substrat, et présente un coefficient de dilatation inférieur à celui de GaN, ce qui génère des contraintes en extension lors du refroidissement. Le nitrure d'aluminium lui-même peut servir de substrat mais reste à l'état expérimental, tandis que le silicium, très bon marché, nécessite l'emploi de super réseauxAlN / GaAlN / GaN intercalaires entre le nitrure de gallium et le silicium. Une telle couche intercalaire est également employée avec le carbure de silicium (polytypes 3Cblende du β-SiC et 6Hhexagonal de l'α-SiC)[38], mais certaines réalisations peuvent s'en dispenser[39].
Historique de son utilisation
Jusqu'en 1993, les seules diodes électroluminescentes (LED) émettant dans le bleu étaient à base de carbure de silicium, un matériau nécessitant d'être dopé pour avoir de bonnes propriétés de semi-conducteur. Mais ce dopage affaiblit le pouvoir d'émission et rend ces dispositifs commercialement inexploitables.
Avec le remplacement par du nitrure de gallium plus efficace, l'équipe du japonais Shuji Nakamura employée par Nichia a complété la palette de couleurs à la disposition des producteurs pour couvrir tout le spectre visible, en jouant sur différents alliages à base de GaN, ce qui a rendu possible des applications comme les écrans à LED, les diodes blanches ou encore les lasers bleus. Les diodes laser bleues sont utilisées dans la technologie des disques Blu-ray remplaçants les DVD (par exemple, ils sont utilisés dans la PlayStation 3 de Sony).
Le potentiel commercial de systèmes fonctionnant à de hautes puissances ou de hautes fréquences à base de nitrure de gallium est important. On peut citer des applications comme les amplificateurs d'ondes radio travaillant dans le domaine des microondes telles que celle utilisées dans les transmissions à haut débit sans fils, ou encore les commutateurs à haute tension des réseaux électriques. On envisage même que des transistors au GaN pourraient remplacer les magnétrons dans les fours micro-ondes.
↑ a et b(en) William M. Haynes, CRC Handbook of Chemistry and Physics, 92e éd., CRC Press, 2011, p. 4.64. (ISBN1-4398-5511-0)
↑(en) Kenji Harafuji, « Molecular dynamics simulation for evaluating melting point of wurtzite-type GaN crystal », Journal of Applied Physics, vol. 96, no 6, , p. 2501-2512 (DOI10.1063/1.1772878, Bibcode2004JAP....96.2501H, lire en ligne).
↑(en) Corey M. Foster, Ramon Collazo, Zlatko Sitar et Albena Ivanisevic, « Aqueous Stability of Ga- and N-Polar Gallium Nitride », Langmuir, vol. 29, no 1, , p. 216-220 (PMID23227805, DOI10.1021/la304039n, lire en ligne).
↑(en) William M. Haynes, CRC Handbook of Chemistry and Physics, 92e éd., CRC Press, 2011, p. 5.12. (ISBN1-4398-5511-0)
↑(en) Ben G. Streetman et Sanjay Banerjee, Solid State electronic Devices, 5e éd., Prentice Hall, 2000, p. 524. (ISBN0-13-025538-6)
↑(en) Johan Strydom, Michael de Rooij, David Reusch et Alex Lidow, GaN Transistors for efficient power conversion, 3e éd., Wiley, 2019, p. 3. (ISBN978-1-119-59442-0)
↑ a et b(en) V. Bougrov, M. Levinshtein, S. Rumyantsev et A. Zubrilov, « Gallium Nitride (GaN) », Michael E. Levinshtein, Sergey L. Rumyantsev et Michael S. Shur, Properties of Advanced Semiconductor Materials: GaN, AIN, InN, BN, SiC, SiGe, John Wiley & Sons, 2001, p. 1-30. (ISBN978-0471358275)
↑(en) Mina Rais-Zadeh, Vikrant Jayant Gokhale, Azadeh Ansari, Marc Faucher, Didier Théron, Yvon Cordier et Lionel Buchaillot, « Gallium Nitride as an Electromechanical Material », Journal of Micromechanical Systems, vol. 23, no 6, , p. 1252-1271 (DOI10.1109/JMEMS.2014.2352617, lire en ligne).
↑ a et b(en) Isamu Akasaki et Hiroshi Amano, « Crystal Growth and Conductivity Control of Group III Nitride Semiconductors and Their Application to Short Wavelength Light Emitters », Japanese Journal of Applied Physics, vol. 36, no 1, , p. 5393-5408 (DOI10.1143/JJAP.36.5393, Bibcode1997JaJAP..36.5393A, lire en ligne).
↑(en) Hiroshi Amano, Masahiro Kito, Kazumasa Hiramatsu et Isamu Akasaki, « P-Type Conduction in Mg-Doped GaN Treated with Low-Energy Electron Beam Irradiation (LEEBI) », Japanese Journal of Applied Physics, vol. 28, no 12, , L2112-L2114 (DOI10.1143/JJAP.28.L2112, Bibcode1989JaJAP..28L2112A, lire en ligne).
↑(en) M. Wraback et H. Shen, « Time-resolved electroabsorption measurement of the electron velocity-field characteristic in GaN », Applied Physics Letters, vol. 76, no 9, , article no 1155 (DOI10.1063/1.125968, Bibcode2000ApPhL..76.1155W, lire en ligne).
« for the invention of efficient blue light-emitting diodes which has enabled bright and energy-saving white light sources. »
↑(en) Norbert H. Nickel, Robert K. Willardson et Eicke R. Weber, Hydrogen in Semiconductors II, Semiconductors & Semimetals, vol. 61, Academic Press, 1999. (ISBN0-12-752170-4)
↑(en) Ralf Riedel et I-Wei Chen, Ceramics Science and Technology, vol. 2 : Materials and Properties, John Wiley & Sons, novembre 2015, p. 68. (ISBN978-3-527-80257-9)
↑(en) Jian-Jang Huang, Hao-Chung Kuo et Shyh-Chiang Shen, Nitride Semiconductor Light-Emitting Diodes (LEDs): Materials, Technologies and Applications, Woodhead Publishing, 2014, p. 68. (ISBN978-0857099303)
↑(en) M. Shibata, T. Furuya, H. Sakaguchi et S. Kuma, « Synthesis of gallium nitride by ammonia injection into gallium melt », Journal of Crystal Growth, vol. 196, no 1, , p. 47-52 (DOI10.1016/S0022-0248(98)00819-7, lire en ligne).
↑(de) Georg Brauer, en collaboration avec Marianne Baudler, Handbuch der Präparativen Anorganischen Chemie, 3e éd. révisée, vol. 1, Ferdinand Enke, Stuttgart, 1975, p. 861. (ISBN3-432-02328-6)
↑(en) Jun Hu1,2, Hongyuan Wei1,2, Shaoyan Yang1,2, Chengming Li1,2, Huijie Li1,2, Xianglin Liu1,2, Lianshan Wang1,2 and Zhanguo Wang1, « Hydride vapor phase epitaxy for gallium nitride substrate », Journal of Semiconductors, vol. 40, no 10, , article no 101801 (DOI10.1088/1674-4926/40/10/101801, Bibcode2019JSemi..40j1801H, lire en ligne).
↑(en) T. L. Chu, K. Ito, R. K. Smeltzer et Shirley S. C. Chu, « Crystal Growth and Characterization of Gallium Nitride », Journal of The Electrochemical Society, vol. 121, no 1, , p. 159 (DOI10.1149/1.2396813, Bibcode1974JElS..121..159C, lire en ligne).
↑(en) Karolina Grabianska, Piotr Jaroszynski, Aneta Sidor, Michal Bockowski et Malgorzata Iwinska, « GaN Single Crystalline Substrates by Ammonothermal and HVPE Methods for Electronic Devices », Electronics, vol. 9, no 9, , article no 1342 (DOI10.3390/electronics9091342, lire en ligne).
↑(en) Justinas Jorudas, Artūr Šimukovič, Maksym Dub, Maciej Sakowicz, Paweł Prystawko, Simonas Indrišiūnas, Vitalij Kovalevskij, Sergey Rumyantsev, Wojciech Knap et Irmantas Kašalynas, « AlGaN/GaN on SiC Devices without a GaN Buffer Layer: Electrical and Noise Characteristics », Micromachines (Basel), vol. 11, no 12, , article no 1131 (PMID33419371, DOI10.3390/mi11121131, Bibcode7766672, lire en ligne).