רובו של ערך זה אינו כולל מקורות או הערות שוליים, וככל הנראה, הקיימים אינם מספקים. אנא עזרו לשפר את אמינות הערך באמצעות הבאת מקורות לדברים ושילובם בגוף הערך בצורת קישורים חיצוניים והערות שוליים. אם אתם סבורים כי ניתן להסיר את התבנית, ניתן לציין זאת בדף השיחה.
ערך מחפש מקורות
רובו של ערך זה אינו כולל מקורות או הערות שוליים, וככל הנראה, הקיימים אינם מספקים. אנא עזרו לשפר את אמינות הערך באמצעות הבאת מקורות לדברים ושילובם בגוף הערך בצורת קישורים חיצוניים והערות שוליים. אם אתם סבורים כי ניתן להסיר את התבנית, ניתן לציין זאת בדף השיחה.
חוֹק סְנֶל הוא חוק פיזיקלי העוסק בשבירה של קרניים במעבר בין שני תווכים בעלי מקדם שבירה שונה, כלומר תווכים בהם מהירות האור שונה. החוק קרוי על שם המתמטיקאי ההולנדיוילברורד סנל שגילה אותו בשנת 1621.[1] אולם סנל לא היה הראשון שגילה את החוק: ההיסטוריון רושדי רשד טען, שניסוח של החוק אפשר למצוא בכתביו של איבן סאל משנת 984 לספירה. בנוסף לכך ידוע שתומאס הריוט, בן זמנו של סנל מאוקספורד, גילה את החוק ב-1602 אולם, כמו סנל מעולם לא פרסם את ממצאיו. דקארט, בזמן שהותו בליידן, ניסח את החוק לראשונה על ידי שימוש בפונקציית הסינוס (ראו להלן), והוא מופיע בספרו "מאמר על המתודה" משנת 1637. מאוחר יותר האשים הויגנס (שקרא את מחברותיו של סנה) את דקארט בפלגיאט. בצרפת נקרא חוק סנל עד עצם היום הזה "חוק דקארט" או "חוק סנל-דקארט".
החוק קובע כי:
– מקדם השבירה של התווך הראשון. – מקדם השבירה של התווך השני. – זווית הפגיעה. – זווית השבירה.
עובדה מעניינת היא שהזויות נמדדות מהאנך לקו מפגש התווכים. לדוגמה, שימוש בחוק סנל מראה שאם קרן אור חודרת בזווית של 50 מעלות מהאנך למשטח, מהאוויר (שמקובל להניח בחישובים שמקדם השבירה שלו הוא 1) לתוך זכוכית (עם מקדם שבירה של 1.5) הרי שבתוך הזכוכית היא תתקדם בזווית של כ-30 מעלות לאנך. תופעה דומה ניתן לראות כשמביטים בכפית שנמצאת בכוס מים, ולמרות שידוע שצורתה ישרה, נראה שחלקה השקוע במים עקום ביחס לזה שבולט לאוויר.
כאשר קרן עוברת בין חומר עם מקדם שבירה גבוה לחומר עם מקדם שבירה נמוך, עשוי להיווצר מצב שבו סינוס זווית היציאה גדול מ-1. במקרה כזה לא תתרחש שבירה, אלא קרן האור תוחזר במלואה. תופעה כזאת נקראת החזרה גמורה. זווית הפגיעה שהחל ממנה הקרן תוחזר בהחזרה גמורה מכונה "זווית קריטית".
חוק סנל שימושי מאוד, והוא עוזר לגלות זוויות רלוונטיות לחישובים ולפיתוחי מכשירים אופטיים המבוססים על עדשות.