Device Under Test

Als Device Under Test (dt.: Prüfling), kurz DUT, wird vor allem in der elektrischen Mess- und Prüftechnik ein zu prüfendes Objekt bezeichnet. Das kann e…

Als Device Under Test (dt.: Prüfling), kurz DUT, wird vor allem in der elektrischen Mess- und Prüftechnik ein zu prüfendes Objekt bezeichnet. Das kann ein isolierter Bereich auf einem Wafer, ein einzelnes Bauteil, eine Baugruppe oder ein komplettes Gerät sein.

Welche Funktionen des DUT geprüft werden, hängt ab von seiner Art, den zu ermittelnden Testparametern oder Messwerten und den zur Verfügung stehenden Prüfmitteln und Messgeräten.

Ein DUT kann auch als Equipment Under Test (EUT) bezeichnet werden, was in Prüfberichten oft gebräuchlicher ist. Ebenso gebräuchlich ist die Bezeichnung Unit Under Test (UUT).

Siehe auch

Content Disclaimer

Informasi ini disarikan dari Wikipedia dan disajikan kembali untuk tujuan edukasi. Konten tersedia di bawah lisensi CC BY-SA 3.0. Kami tidak bertanggung jawab atas ketidakakuratan data yang bersumber dari kontribusi publik tersebut.

  1. The information displayed on this website is sourced in part or in whole from Wikipedia and has been adapted for the purpose of restating it. We strive to provide accurate and relevant information, however:
  2. There is no guarantee of absolute accuracy. Wikipedia is an open, collaborative project that can be edited by anyone, so information is subject to change.
  3. It is not intended to constitute professional advice. The content displayed is for informational and educational purposes only. For important decisions (e.g., medical, legal, or financial), please consult a professional.
  4. Content copyright. Wikipedia is licensed under the Creative Commons Attribution-ShareAlike License (CC BY-SA). This means that content may be reused with appropriate attribution and shared under a similar license.
  5. Responsible use. Any risk arising from the use of information from this website is entirely the responsibility of the user.